中古。ナノスケール絶縁膜経時破壊 (NanoTDDB):MFP-3D AFM/SPM用。Fabrication and use of silicon hollow-needle arrays to。箱に約3cmの破れあり。他に書き込みや目立つ汚れなど無し(出品前に一通り確認していますが、見逃しがございましたらご容赦下さい)。大塚電子株式会社 顕微分光膜厚計 OPTMseries | 小川精機株式会社。分子科学研究所 on X: 。
新規の方と評価10以下の方、評価に悪いが多い方は、局留めでの発送はしません。【2冊セット】Theory of Accretion Disks 降着円盤の理論 洋書/天文学/物理学/ブラックホール【ac01c】。■INTRODUCTION TO ELECTRODYNAMICS Third Editiion■David J. Griffiths 著■。
緩衝材での梱包をご希望の場合は110円ご負担お願いします(送料が変わる場合があります)。
もくじ
1 エレクトロニクスにおけるスケーリングの追求と絶縁膜の技術・科学的課題
第1章絶縁膜の超薄膜化ニーズ (岩井 洋)
1.はじめに
2.集積回路におけるトランジスタの微細化の必要性
3.トランジスタ微細化の問題点とその解決策
4.スケーリング則
5.MOSFET ゲート絶縁膜の超薄膜化ニーズ
6.その他の絶縁膜の超薄膜化ニーズ
7.まとめ
第2章絶縁体超薄膜における量子界面物性の基礎的諸問題 (長谷川 英機)
1.high -κ絶縁体薄膜を持つMOS 構造とその界面電子物性
2.金属-半導体および金属-絶縁体界面におけるフェルミ準位ピンニング
3.絶縁体超薄膜と半導体の界面におけるバンドの相互配置
4.絶縁体超薄膜と半導体の界面における界面欠陥準位とその制御
5.おわりに
2 絶縁超薄膜技術 ~分子設計・加工・評価~
第1章ゲートスタック絶縁膜設計研究
第1節次世代ゲート絶縁膜の材料設計とその応用 (知京 豊裕/生田目 俊秀/関口 隆史/ Chen Jun /若山 裕)